可定制带系统的涂层测厚

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法（DIN EN ISO 2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DIN EN ISO 2360）测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042|深圳华清仪器供应LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042|深圳华清仪器供应LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪
涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

随机附送仪器箱
（仪器的举例）

  特点概述

LEPTOSKOP 2042 带有45°微型探头

* 取决于配置级别

  3种配置级别以更好的完成测量人任务

LEPTOSKOP 2042 有3种配置级别

基本型 – 证明质量的基本特征

高级型 - 附加统计评估

型 - 统计评估和数据存储

如果针对新的测量要求，而需要仪器增加新的功能，可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或型。升级只需在现场输入解锁代码，“统计”和/或“统计& 数据存储”，便可完成；而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。

这里有操作指南和制定模块的参考说明。

通过解锁代码可以很方便的升级
（证书举例）

  举例：仪器上的用户界面图像

选择菜单项目（例如：语言清单）

清晰的统计读数值和当前测量值

电脑读数也被存储在目录和文件中

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  多样的探头

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下，更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求，我们也可以订做特殊探头。

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探头类型

测量方法

测量范围

订货号

标准探头Fe 0?br> 用于在宽阔的、容易测量的地方

Fe

0 - 3000 祄

2442.100

标准探头 NFe 0?/font>

NFe

0 - 1000 祄

2442.130

标准探头 NFe S 0?/font>

NFe

0 - 3750 祄

2442.140

标准探头 Fe S 0?br>用于测量表面有宽阔的涂层厚度

Fe

0.5 - 20 mm

2442.120

标准探头 Fe 90?br>用于测量难接近的部位，例如：管子的内部

Fe

0 - 3000 祄

2442.110

双晶探头用于测量表面有宽阔的涂层例如：管子的内部涂层.

Fe

0.5 - 12.5 mm

2442.200

微型探头0?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：钻孔的底部

FeNFe

0 - 500 祄

2442.300
2442.310

微型探头 45?用于测量小尺寸和难接近的部位

FeNFe

0 - 500 祄

2442.320
2442.330

微型探头 90?用于测量小尺寸和难接近的部位例如：管子的内壁和钻孔

FeNFe

0 - 500 祄

2442.340
2442.350

注：点击单独的探头图片，可以得到更多详细信息

  涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042|深圳华清仪器供应LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪技术资料

数据传输接口RS232 或　USB

电源：电池、充电电池、USB或外接电源

测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)

测量速度:　每秒测量２个数值

存储: 多 9999 个数值，140个文件

误差: 
涂层厚度 < 100 祄: 1 % 的数值 +/- 1 祄 (校准后) 
涂层厚度 > 100 祄: 1..3 % 的数值 +/- 1 祄 
涂层厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的数值 +/- 10 祄 
涂层厚度　> 10000 祄: 5 % 的数值 +/- 100 祄

  附件

试块和膜片

探头定位装置　(适用于微型探头)

定位辅助装置 (适用于微型探头)

电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理

电脑软件 EasyExport 用于把单独的杜说或全部文件传输到Windows 程序里