olympus 72DL PLUS超声测厚仪
适用于多种应用的快速准确厚度测量
72DL PLUS仪器可作为漆层测厚仪、涂层测厚仪或材料测厚仪使用。无论用于何种应用，这款测厚仪都能迅速提供堪比实验室质量、可靠的测量结果，从而可大幅提高生产车间的生产率和生产量。选择您的探头
72DL PLUS测厚仪与频率高达125 MHz的奥林巴斯单晶超声探头相兼容：
标准频率型号的测厚仪可与频率范围在0.2–30 MHz的探头配套使用，高速测量材料厚度，并快速提供测量结果
高频率型号的测厚仪可与频率范围在20–125 MHz的探头配套使用，测量薄材料
72DL PLUS测厚仪的技术规格
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标准频率型号
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高频率型号
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238.76 × 172.72 × 86.36 mm
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2.08 kg
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24 V AC/DC适配器，或73 Wh锂离子电池
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8小时
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-20°C ～ 40°C
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-10°C ～ 50°C
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177.8毫米（7英寸）WVGA（800 × 480）PCAP触摸屏，更新率为60 Hz
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低分辨率：0.1 mm
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低分辨率：25 µm（1 mil = 0.001 in.)
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标准分辨率：2.5 µm（0.1 mil = 0.0001 in.)
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高分辨率：0.25 µm（0.01 mil = 0.00001 in.)
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钢：0.20 mm ～ 635 mm
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塑料：0.0127 mm ～ 25.4 mm
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*多6层
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1到3层，*2 kHz
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1到3层，*1 kHz
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4到6层，*500 Hz
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单点或两点自动校准；零位偏移和/或声速的手动调整；在冻结波形上进行的单点校准
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A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势图和放大图
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2 GB； 约400000个厚度读数，20000个波形
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0.2 ～ 30 MHz（-3 dB）
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20 ～ 125 MHz（-3 dB）
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自动或手动（*100 dB）
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自动或手动（*80 dB）
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设计符合IP65评级标准并通过测试：防尘，且可抵御来自各个方向的水射流
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通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。
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通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每个轴6个循环，15 g，11 ms半弦波。
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通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
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